KAI-N - Kurztest zur Messung des Arbeitsgedächtnisses

Type
Book
Authors
Lehrl ( S. )
Blaha ( L. )
 
Category
Test  [ Browse Items ]
Edition
 
Publication Year
2000 
Publisher
Vless Verlag, United States 
Abstract
 
Description
Der KAI-N basiert auf dem Kurztest für Allgemeine Intelligenz (KAI). Neu ist die getrennte Betrachtung von Merkspanne und Arbeitsgeschwindigkeit (getrennte Normierung). Damit können die beiden Komponenten des Arbeitsgedächtnisses auch isoliert gemessen und bewertet werden. 
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